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Spectra-QT 成像传感器量子效率测试光源

Large Spheres

       对于图像传感器行业而言,精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的,一个良好特性的传感器可以指定和调整输入滤波后的光谱,增强修正终端产品的使用性能。 

       Spectra-QT成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源,用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率,线性度,像素和模块。

测量参数:

  • 量子效率
  • 光谱响应率
  • 线性度

特点:

  • 超高的光照强度和超大的动态范围,能够满足各种传感器的量子效率测试需求
  • 输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源,确保传感器测试结果的一致性。
  • 光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院(NIST
  • 提供软件开发包,能够满足客户各种自定义测试流程开发需要

主要规格参数

 

光谱辐照度

光谱辐亮度

波长范围:

375 - 1100 nm

375 - 1100 nm

光谱带宽:

5 nm to10 nm

5 nm to10 nm

波长准确度:

0.6 nm

0.6 nm

开口孔径尺寸:

29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mm

N/A

400 nm最大光谱辐照度:

12 mW/cm2

32 mW/cm2-sr

600 nm最大光谱辐照度:

21 mW/cm2

54 mW/cm2-sr

800 nm最大光谱辐照度:

5 mW/cm2

11 mW/cm2-sr

550 nm稳定性: (UV-VIS 光源)

< 1.5% over 5 sec period

< 1.5% over 5 sec period

750 nm稳定性: (VIS-NIR 光源)

< 0.05% over 5 sec period

< 0.05% over 5 sec period


附件

Spectra-QT 成像传感器量子效率测试光源 (pdf).pdf
SpectrALL 可调光谱校准光源手册.pdf

 


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